原子力顯微鏡:是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實(shí)驗(yàn)技術(shù).它有一根納米級(jí)的探針,被固定在可靈敏操控的微米級(jí)彈性懸臂上.當(dāng)探針很靠近樣品時(shí),其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會(huì)使懸臂彎曲,偏離原來的位置.根據(jù)掃描樣品時(shí)探針的偏離量或振動(dòng)頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表面的形貌或原子成分。

AFM原子力顯微鏡優(yōu)缺點(diǎn)

相對(duì)于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM原子力顯微鏡提供真正的三維表面圖。同時(shí)，原子力顯微鏡不需要對(duì)樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對(duì)樣品會(huì)造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三，電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下，AFM原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。和掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡的缺點(diǎn)在于成像范圍太小,速度慢，受探頭的影響太大。